【VIS+NIR】nkデータ of a-Si:D膜

• 試料：
  ＊a-Si:D/石英基板
  ＊成膜方法：　スパッタ
  ＊膜厚：　1990nm
  ＊基板厚：　0.5mm
• 測定：
  ＊分光光度計(V-570)＋絶対反射率測定ユニット
  ＊波長 WL：　400-2000nm（VIS/NIR切替：850nm）
  ＊入射角：　5°
  ＊反射率 R1：　有効数字3桁または小数第1-2位まで
  ＊透過率 T1：　有効数字3桁または小数第1-2位まで
  ＊測定日：　　2018/11/23
• 解析：
  ＊屈折率 n_fit：　有効数字3-4桁；K-K関係なし
  ＊消衰係数 k_smooth：　有効数字1-2桁；K-K関係なし
  ＊nkデータ名：　(n,k)a-SiD_b81123【A】
  ＊プログラム：　CalcNK_v4.7
• メモ：
  ＊特記なし

“(n,k)a-Si:D_5nm step” をダウンロード

nka-SiD_b81123【A】-5nm-step.txt – 334 回のダウンロード – 6.81 KB

WL(nm) n k
2000 3.474 0.00001
1550 3.488 0.00001
905 3.620 0.00353
…
650 3.780 0.01778
550 3.960 0.03999
450 4.528 0.14060